产品中心
联系我们
平面波测试系统
规格参数
详情描述
平面波测试系统
PWC2000平面波测试系统是面向5G大规模MIMO基站研发、质检、生产与OTA一致性测试的专用测量设备，基于移相衰减网络+探头阵列一体化架构，可在指定静区内生成高质量平面波，实现近场距离下的远场特性测量，无需近远场变换算法，大幅缩减测试空间与测试时间。
设备集成宽带天线阵列、高精度移相/衰减单元、低噪声放大链路、高速开关矩阵与时序同步系统，支持网口远程控制、参数批量配置、自校准与状态监测，满足基站多端口射频指标自动化测试需求。
典型测试应用
• 5G基站OTA测试：辐射发射功率（EIRP/TRP）、调制质量（EVM）、邻道泄漏比（ACLR）、频谱发射模板（SEM）、接收灵敏度、动态范围、阻塞与互调。
• 天线阵列特性测试：增益、方向图、极化隔离；效率、端口隔离、驻波；近场平面波合成与静区验证。
应用领域
• 体积小：在Sub8GHz内具备显著的成本优势，体积可以较远场测试系统小4倍。
• 静区质量高：幅度不平衡度：±0.5dB（3.5GHz），相位不平衡度：±4°（3.5GHz）。
• 宽频高功率：2~8 GHz全频段覆盖，ANT连续波/热切换平均功率≥30 dBm。
• 高精度调控：0~25 dB衰减（0.1 dB步进）、360°移相（1°步进），通道拉齐校准。
• 高隔离低损耗：多通道高隔离度设计，插损与驻波优异。
• 高可靠性：通过振动、敲击、温度循环、老化等严苛可靠性验证。
• 易用软件：网口通讯、配置导入导出、IP显示、远程命令控制。
• 紧凑结构：满足安装尺寸约束，无锐边、标准化接头、防呆供电设计。
