极近场耦合测试

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规格参数 详情描述

产品型号

类型

工作频率(GHz)

功能

支持测试参数

尺寸(W*H*D mm)

天线数量

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3D模型

BIP-12800

平面阵列耦合板

0.65~8

MT

Tx Power、Frequency Offset EVM、BER、RSSI

250×250

128只

隐藏域元素占位

BNP-S1608A

小尺寸多天线耦合设备

0.65~8

MT

Tx Power、Frequency Offset EVM、BER、RSSI

≤480×535×670

/

隐藏域元素占位

BIP-030636

双极化阵列耦合板

0.65~8

MT

Tx Power、Frequency Offset EVM、BER、RSSI

117×220×60

36只

隐藏域元素占位

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极近场耦合测试设备

BNP多天线耦合测试设备,由屏蔽箱、天线、射频开关和谐波材料构成,是一种利用近场耦合原理进行OTA空口测试的设备,常用于终端产品的生产测试场景,配合仪表、软件构建自动化测试解决方案,在测试过程中通过电子开关切换射频链路,进行数据的采集,通过软件处理数据。

功能特点

• 低成本:占地面积小、搭建成本低,屏蔽性能优异,抗外界射频干扰。

• 带宽大:支持650MHz~8GHz DUT的TRP、TIS和灵敏度等射频指标的测试。

• 部署灵活:台式屏蔽箱可直接部署自动化产线,搭配气动抽屉自动上下料。

• 兼容性强:支持手机等小型智能产品、型号快速切换。

• 天线位置免调试:设备无需调节天线位置,在客户端完成软件调试情况下可直接导入投产。

 

系统原理
BNP多天线耦合测试设备主要系统由屏蔽箱、天线、射频开关组成。通过ATE软件平台实现产品和仪表的通信、射频通道切换、测试数据判断、测试报表输出、跟MES系统交互等功能。
 

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