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毫米波芯片平移式分选测试设备
设备主要针对5G FR2毫米波射频前端、毫米波AIP、短距通讯、多通道TR芯片的生产、研发小批量测试,提出的完整从自动取放料、指标测试到产品包装的完整解决方案。
用于实现待测毫米波芯片批量测试中的自动取料、自动包装、电性能参数测试。可快速兼容多种型号芯片测试,亦可增配高温模块选项,适合批量生产测试、研发测试、计量认证测试场景。
设备包括两部分内容,一是Handler机台模块,实现机构自动化动作,包括入料、取料、放料、分选、编带等,二是ATE测试模块,通过对测试仪器、Loadboard自动控制,实现测试激励施加、测试数据采集/判断、测试流程管理、测试结果读取和保存。通过ATE平台软件软件控制它们之间动作节奏,传递工作信息,联合工作。

· 支持全流程自动测试功能,且界面实时反馈工作状态及报警信息
· 支持多种工作模式灵活配置
· 支持多种产品快速扩展
· 支持测试数据自动采集、存储、MES/云端上传
· 支持loadboard定制化开发
· 支持产品快速换型,且操作便捷

· 批量生产测试 · 研发测试 · 计量认证测试

设备规格
毫米波芯片平移式分选测试设备
设备主要针对5G FR2毫米波射频前端、毫米波AIP、短距通讯、多通道TR芯片的生产、研发小批量测试,提出的完整从自动取放料、指标测试到产品包装的完整解决方案。
用于实现待测毫米波芯片批量测试中的自动取料、自动包装、电性能参数测试。可快速兼容多种型号芯片测试,亦可增配高温模块选项,适合批量生产测试、研发测试、计量认证测试场景。
设备包括两部分内容,一是Handler机台模块,实现机构自动化动作,包括入料、取料、放料、分选、编带等,二是ATE测试模块,通过对测试仪器、Loadboard自动控制,实现测试激励施加、测试数据采集/判断、测试流程管理、测试结果读取和保存。通过ATE平台软件软件控制它们之间动作节奏,传递工作信息,联合工作。

· 支持全流程自动测试功能,且界面实时反馈工作状态及报警信息
· 支持多种工作模式灵活配置
· 支持多种产品快速扩展
· 支持测试数据自动采集、存储、MES/云端上传
· 支持loadboard定制化开发
· 支持产品快速换型,且操作便捷

· 批量生产测试 · 研发测试 · 计量认证测试

设备规格
|
规格项 |
设计规格 |
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外形尺寸 |
L1800*W1720*H1960mm |
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测试效率 |
UPH≥5000(空载) |
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封装形式 |
SOP/QFN/QFP/LGA/BGA/CSP等; |
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封装尺寸 |
3×3~40×40mm |
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测试压力 |
≥140kgf |
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测试工位 |
2/4个 |
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来料形式 |
Tray盘 |
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出料形式 |
Tray盘、卷料编带 |
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高温模式 |
50℃~125℃±3℃; |
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单独编带能力 |
UPH>2000pcs |
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Loadboard |
支持定制化开发 |
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可靠性 |
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数据管理 |
自动采集,保存、分析、统计、导出的测试原始数据,支持生成excel、word格式的数据文件 |
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校准 |
通过软件实现系统自动校准功能,自动记录校准数据、配置参数,重启系统后不丢失校准配置参数 |
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设备电源 |
AC220V 50Hz 3KW |
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设备气源 |
0.5~0.7Mpa |
|
通讯接口 |
RS232、GPIB、LAN、TTL |
|
设备重量 |
≤1200kg |
-
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