解决方案

方案概述

物联网芯片分选测试解决方案

方案适基于多通道综测仪进行开发，用于物联网芯片/模组封装完成后的固件烧录、射频校准、射频测试、包装工作。可以满足客户产线小批量、或者批量生产。

系统主要由Handler、socket、loadboard、多通道综测仪组成，配合ATE软件实现待测物联网芯片的Tray盘自动取放料、测试、分选、包装作业。

应用场景

车规安全芯片分选测试

物联网射频模组分选测试：

方案特点

设备兼容性强

支持多种产品快速切换；

支持低温、常温、高温多种环境测试；

支持Tray盘收料，同时还可兼容编带包装。

模块化结构

取放料模块按照标准Tray盘外形尺寸进行设计，同时预留CCD视觉模块；

标准化定义loadboard安装位置，可满足多种产品模块化切换；

编带机设计成独立模块，可以根据客户需求增减。

设备可靠性强

掉料率：<1/10000；

测试工位接触不良率：<1/10000；

MTBF（平均故障间隔）≥220h；

MTBA（平均报警间隔）≥120min。

软件平台化

具备可视化、简洁明了的显示及操作界面，操作便捷及信息展示及时、全面；

自动化控制及测试模块上位机采用嵌套平台化关系，可实现多种测试类型的快速切换；

可满足多种制式数据自动化存储。

方案优势

系统兼容性强

可支持产品多种封装形式、多种尺寸规格、多种测试方案、多种测试仪表条件下的分选测试；

支持定制化

具备socket、loadboard定制化开发，同时ATE软件平台化设计，可兼容多种版本物联网射频测试、校准标准。

行业经验丰富

公司从事射频微波测试技术近二十年，具备射频、嵌入式、自动化、热力学相关技术融合能力，同时一直服务于各大高校、科研院所、通讯大厂，具备丰富的行业经验。

订购信息

项目名称	型号	描述
平移式分选测试设备	ST5203	分选测试，2/4工位，UPH=1800pcs,散料/Tray盘来料，兼容性强
信号提取夹具	AFX300	射频信号提取，带TRL校准，频率：DC～50GHz
kit组件	定制	2/4工位
loadboard板	定制	芯片测试电源控制、信号转接、电信号采集等

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